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貼片電容壽命檢測方法

  • 編輯: 深圳容樂電子官網
  • 發(fā)表時間:2018-08-09

  貼片電容壽命檢測方法,貼片電容的使用并非無限,使用過久后還是會有消耗,貼片電容的使用壽命是有限的,貼片電容的壽命有兩層含義,其一是老化壽命,其二是使用壽命。下面風華電容代理商為大家提供技術知識講解。


貼片電容

  貼片電容的老化壽命一般沒有多大實際意義。一顆電容即便生產出來很多年,也一樣可以正常使用。這個和晶振不太一樣。當然如果倉儲環(huán)境達不足,出廠時間久的貼片電容端電極有可能老化,導致焊接性能下降。因此原則應該購買出廠一年以內的產品。


  風華貼片電容使用壽命測試方法:


  一、測試方法

  1、低壓貼片電容(≤100V)

  電壓:1.5 倍額定工作電壓。

  時間:1000 小時。

  溫度:125℃(NPO、X7R) 85℃(X5R、 Y5V)。

  充電電流:不應超過50mA。

  放置條件:室溫。

  放置時間:24 小時(Ⅰ類),或48 小時(Ⅱ類),。


  2、中高壓貼片電容:

  100V≤額定電壓<500V:2 倍工作電壓。

  500V≤額定電壓≤1000V:1.5 倍工作電壓。

  額定電壓>1000V:1.2 倍工作電壓。

  時間:1000 小時。

  充電電流:不應超過50mA。

  溫度:125℃(NPO X7R);85℃(X5R、Y5V)。

  放置條件:室溫。

  放置時間:24 小時(Ⅰ類),或48小時(Ⅱ類)。


  二、測試標準:

  ΔC/C

 ?、耦悾骸堋?%或±1pF 取兩者之中較大者。

 ?、蝾悾築,X: ≤±20% ;E,F: ≤±30%。


  ΔC/C:

 ?、耦悾骸堋?%或±1pF取兩者之中較大者。

 ?、蝾悾築,X: ≤±20%;E,F: ≤±30%。


  DF:

  ≤2 倍初始標準。


  IR

  Ⅰ類:Ri≥4000MΩ或 Ri? CR≥40S 取兩者之中較小者。

 ?、蝾悾篟i≥2000MΩ或 Ri? CR≥50S 取兩者之中較小者。


  外觀

  無損傷


  貼片電容壽命檢測方法內容就到這里,以上是風華高科的貼片電容測試方法,想要了解其它品牌的測試方法可以對我司提問。